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在電子材料、半導體、新能源等行業快速發展的今天，材料電阻特性的精確測量對產品質量控制至關重要。Loresta-GX MCP-T700四探針電阻率分析儀（又稱阻抗計）以其出色的測量精度和廣泛的材料適應性，成為眾多企業和科研機構的選擇設備。
本文將詳細分析這款儀器的技術特點、應用場景及選購要點，助您做出明智的選擇。
Loresta-GX MCP-T700采用恒流源四探針測試原理，通過四個鍍金彈簧探針與樣品表面接觸，施加恒定電流并測量電壓降，從而計算電阻值。
這種方法的突出優勢在于能有效消除探頭接觸電阻和導線電阻對測量結果的影響，保證數據的準確性2。
儀器可根據樣品尺寸自動計算阻抗率校正因子（RCF）值，直接得出體積電阻率（Ω·cm）、表面電阻率（Ω/□） 和電導率（S/cm），無需人工計算。
MCP-T700的測量范圍擴展至 0.001×10?? ~ 9.999×10?Ω，覆蓋從超低導電材料到高阻材料的各種樣品，相比前代產品有明顯提升。
儀器配備7.5英寸真彩色TFT-LCD觸摸屏（分辨率640×480），操作界面直觀便捷，大大提升了用戶體驗。
新增一鍵自動測試功能（Auto-hold和Timer Model），測試完成后自動停止并保持測試值，簡化了操作流程。
儀器支持多種專用探頭，可根據不同樣品特性選擇最合適的探頭：
| 探頭類型 | 型號 | 適用樣品 | 針尖規格 | 彈簧壓力 |
|---|---|---|---|---|
| ASP探頭 | MCP-TP03P | 通用型 | 0.37R×4支 | 210g/支 |
| ESP探頭 | MCP-TP08P | 不均勻樣品 | φ2mm×4支 | 240g/支 |
| PSP探頭 | MCP-TP06P | 小樣品/薄膜 | 0.26R×4支 | 70g/支 |
| NSCP探頭 | MCP-NSCP | 硅晶圓 | 0.04R×4支 | 250g/支 |
| TFP探頭 | MCP-TFP | 硅片/玻璃基板薄膜 | 0.15R×4支 | 50g/支 |
內置數據存儲功能，可通過USB接口轉存數據，方便后續分析和記錄。
提供10V和90V兩種測量電壓可選，避免過高電壓對敏感樣品造成損傷。
Loresta-GX MCP-T700適用于多種行業和材料類型的電阻特性測量：
電子半導體行業：硅晶圓、LCD、TFT、ITO玻璃、導電陶瓷、半導體材料
能源材料領域：鋰電池電極材料、導電涂料、導電油墨、導電膠
高分子材料：導電塑料、導電橡膠、防靜電材料、電磁屏蔽材料
金屬與鍍層：金屬鍍膜、噴金屬層、金屬板、鎂合金電鍍、表面處理
粉末材料：碳粉、金屬粉末、磁性材料（需配合全自動粉末電阻率測試系統）
常規樣品：選擇ASP探頭，滿足大多數測量需求
不均勻表面樣品：選用ESP探頭，獲得更穩定的測量結果
小型樣品或薄膜：PSP探頭更為適合
硅晶圓測試：應選擇專用的NSCP探頭
硅片或玻璃基板上的薄膜：TFP探頭是佳選擇
MCP-T700的測量精度達到±0.5%，滿足大多數工業應用和科研需要。對于高精度要求的場合，應確保在恒溫恒濕環境下使用，并定期使用探頭檢驗片進行校準。
如需測試粉末材料，可考慮搭配全自動粉末電阻率測試系統，實現加壓、測試、釋放一鍵完成。
定期校準：使用隨附的探頭檢驗片定期檢查探頭狀態，確保測量準確性
樣品準備：確保樣品表面平整清潔，與探針有良好接觸
環境條件：在標準環境條件下（溫度23±1℃，濕度50±10%）進行測量，以獲得可靠結果
探頭保養：定期清潔探針針尖，避免污染影響測量結果
Loresta-GX MCP-T700由日東精工分析技術（原三菱化學分析技術）生產，2021年4月由原三菱化學分析技術株式會社變更為日東精工分析技術株式會社。
儀器符合國際標準ISO 1853、ISO 2878、ASTM D991、JIS K 7194、JIS R 1637，確保測量結果的可靠性。
Loresta-GX MCP-T700四探針電阻率分析儀以其寬廣的測量范圍、測量精度和廣泛的材料適應性，成為材料導電性能測試的理想選擇。
無論是用于生產質量控制、產品研發還是科學研究，這款儀器都能提供可靠、準確的測量數據，幫助您優化工藝、提升產品質量。
