日本富士fujiwork薄膜測厚儀型號(hào)及用途介紹

發(fā)布日期：2021-11-17      瀏覽次數(shù)：2062

日本富士fujiwork薄膜測厚儀型號(hào)及用途介紹

標(biāo)準(zhǔn)型/薄膜型

薄膜測試儀連續(xù)測厚機(jī)FT-A200 / FT-A200R



配備高精度測量頭和放大器單元的高duan機(jī)器。
只需設(shè)置從生產(chǎn)線上切下的薄膜，您就可以輕松地連續(xù)測量厚度。

FT-A200 測量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測量分辨率/ 0.01 μm

帶內(nèi)置顯示器的緊湊型


薄膜測試儀連續(xù)測厚機(jī)FT-D200



帶有內(nèi)置顯示屏的一體式緊湊型機(jī)器。
輸送功能得到進(jìn)一步提升，可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的連續(xù)測厚。

測量范圍 10 μm 至 500 μm
測量分辨率 / 0.1 μm




薄膜測試儀連續(xù)測厚機(jī)FT-D100NL


一體成型機(jī)的進(jìn)化版。
只需設(shè)置薄膜，您就可以在沒有引線的情況下從jian端測量厚度。

測量范圍 20 μm 至 500 μm
測量分辨率/0.1 μm

HKT-1216


一種通過保持測量頭下降速度恒定來消除測量者測量變化的測量儀器。
對(duì)超薄膜進(jìn)行舒適準(zhǔn)確的測量。

測量分辨率 0.01 μm
測量范圍 200 μm
Stylus R30 硬質(zhì)合金球面

HKT-1200


也可使用電池的緊湊型厚度測量儀。
一種通過保持測量頭下降速度恒定來消除測量者測量變化的測量儀器。

測量分辨率 0.1 μm
測量范圍 500 μm
Mushroom R30 硬質(zhì)合金球面

HKT-1216L


當(dāng)測量對(duì)象較大時(shí)推薦使用此方法。
是HKT-1216的大舞臺(tái)版。
* 測量臺(tái)以外的產(chǎn)品規(guī)格與HKT-1216相同。

測量臺(tái) 石材平臺(tái)類型
尺寸約長200 mm x 寬 150 mm x 高 300 mm

HKT-1200L


當(dāng)測量對(duì)象較大時(shí)推薦使用此方法。
是HKT-1200的大舞臺(tái)版。
* 測量臺(tái)以外的產(chǎn)品規(guī)格與HKT-1200相同。

測量臺(tái) 石材平臺(tái)類型
尺寸約長200 mm x 寬 150 mm x 高 300 mm




HKT-Lite0.1


無繩和輕便的固定式測量儀器。
即使在沒有電源的地方，您也可以輕松測量 0.1 μm。一種保持測量頭下降速度恒定并消除測量偏差的測量儀器。

測量分辨率 0.1 μm
測量范圍 8 mm

HKT-Lite 1.0


無繩和輕便的固定式測量儀器。此外，實(shí)現(xiàn)了低價(jià)格。
一種保持測量頭下降速度恒定并消除測量偏差的測量儀器。

測量分辨率 1 μm
測量范圍 8 mm