客戶咨詢熱線：
15270896115
eko太陽輻射 IV曲線測測儀MP-160 可以說是太陽能電池代名詞的硅基太陽能電池近年來，由于化合物基和染料敏化（濕）太陽能電池（稱為下一代太陽能電池）的研究和開發進展而受到關注，同時即使在批量生產水平上，性能改進和更大的直徑也在增加。
更新日期：2024-03-26 訪問量：1735
eishinkagaku手電筒型UV-LED黑光燈 UV-41VF 光學測量儀
eishinkagaku手電筒型UV-LED黑光燈 UV-41VF 使用 41 個 UV-LED 的高亮度便攜式迷你燈。 它重量輕，幾乎不保留熱量，非常適合數碼相機攝影。 攜帶方便，因為它可以放在你的口袋里
更新日期：2024-03-25 訪問量：1821
日本p gauges光纖耦合LED光源LDS1007 光學測量儀
日本p gauges光纖耦合LED光源LDS1007 LDS1007是一款緊湊、輕便、低成本的LED光源，將光纖耦合高輸出LED與電源和驅動電路相結合。 無需調整，LED燈在電源打開后立即從光纖端輸出。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1470
koshin kogaku可調諧激光器KLS-201A系列 光學測量儀
koshin kogaku可調諧激光器KLS-201A系列 標準型號，除了O波段到U波段之外，還覆蓋1220nm波段（波長安裝分辨率：0.1nm）
更新日期：2024-03-25 訪問量：1695
koshin kogaku半導體激光光源KLS-601A系列 光學測量儀
koshin kogaku半導體激光光源KLS-601A系列 該產品是一種亞納秒Nd：YAG脈沖激光器，振蕩波長為1064 nm。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1425
koshin kogaku可調諧激光器KLS-601A系列 光學測量儀
日本optoquest微芯片激光器 該產品是一種亞納秒Nd：YAG脈沖激光器，振蕩波長為1064 nm。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1548
日本inflidge半導體検査用光源MHB-400 光學測量儀
日本inflidge半導體検査用光源MHB-400 金屬鹵化物光束MHB-400是集成高效金屬鹵化物燈和橢圓鏡的光源。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1882
日本inflidge液晶検査用光源MHB-400 光學測量儀
日本inflidge液晶検査用光源MHB-400 金屬鹵化物光束MHB-400是集成高效金屬鹵化物燈和橢圓鏡的光源。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1652
日本sena TFT透鏡表面檢查燈185LE-AL 光學測量儀
日本sena TFT透鏡表面檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1339
日本sena TFT面板目視檢查燈185LE-AL 光學測量儀
日本sena TFT面板目視檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1335
日本sena玻璃基板目視檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1332
日本sena目視晶圓檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1416
日本sena彩色濾光片檢查燈185LE-AL 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1424
日本soma紫外可見光吸收光譜儀S-3160 只需將光纖前端探針浸入樣品溶液中即可在短時間內測量吸光度。 可用于濁度測量、終點檢測、在線監測等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1969
日本soma可見光吸光光度計S-3160 只需將光纖前端探針浸入樣品溶液中即可在短時間內測量吸光度。 可用于濁度測量、終點檢測、在線監測等。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1761
