日本中央電機cew微缺陷檢測設備

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更新日期：2025-05-02

簡要描述：

日本中央電機cew微缺陷檢測設備
使用高分辨率相機和高精度XY載物臺的二維檢查設備。
適用于檢查光學膜，片，觸摸面板等的表面劃痕，異物和缺陷。

類型	無損傷

日本中央電機cew微缺陷檢測設備

使用高分辨率相機和高精度XY載物臺的二維檢查設備。
適用于檢查光學膜，片，觸摸面板等的表面劃痕，異物和缺陷。
光學分辨率為“ 1.8μm”，可以進行超高清檢查。
它也可以用于尺寸測量，并且可以檢查二維沖壓產品。

用于檢查觸摸屏和異物等缺陷！

日本中央電機cew微缺陷檢測設備

光學分解能1.8μｍ?スピード検査　タッチパネス周辺電極?基板表面など、微細欠陥の検査が可能

高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査裝置です。
光學フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光學分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。